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如何判別ABB可控硅的損壞原因
日期：2025-04-26 08:51
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摘要：
如何判別ABB可控硅的損壞原因
當ABB可控硅損壞后需要檢查分析其原因時，可把管芯從冷卻套中取出，打開芯盒再取出芯片，觀察其損壞后的痕跡，以判斷是何原因。
下面介紹幾種常見現(xiàn)象分析。1、電壓擊穿?？煽毓枰虿荒艹惺茈妷憾鴵p壞，其芯片中有一個光潔的小孔，有時需用擴大鏡才能看見。其原因可能是管子本身耐壓下降或被電路斷開時產(chǎn)生的高電壓擊穿。2、電流損壞。電流損壞的痕跡特征是芯片被燒成一個凹坑，且粗糙，其位置在遠離控制極上。3、電流上升率損壞。其痕跡與電流損壞相同，而其位置在控制極附近或就在控制極上。4、邊緣損壞。他發(fā)生在芯片外圓倒角處，有細小光潔小孔。用放大鏡可看到倒角面上有細細金屬物劃痕。這是制造廠家安裝不慎所造成的。它導(dǎo)致電壓擊穿。 以上4種原因都是可控硅的常見損壞原因，遇到可控硅損壞事件，應(yīng)冷靜分析。
當ABB可控硅損壞后需要檢查分析其原因時，可把管芯從冷卻套中取出，打開芯盒再取出芯片，觀察其損壞后的痕跡，以判斷是何原因。
下面介紹幾種常見現(xiàn)象分析。1、電壓擊穿?？煽毓枰虿荒艹惺茈妷憾鴵p壞，其芯片中有一個光潔的小孔，有時需用擴大鏡才能看見。其原因可能是管子本身耐壓下降或被電路斷開時產(chǎn)生的高電壓擊穿。2、電流損壞。電流損壞的痕跡特征是芯片被燒成一個凹坑，且粗糙，其位置在遠離控制極上。3、電流上升率損壞。其痕跡與電流損壞相同，而其位置在控制極附近或就在控制極上。4、邊緣損壞。他發(fā)生在芯片外圓倒角處，有細小光潔小孔。用放大鏡可看到倒角面上有細細金屬物劃痕。這是制造廠家安裝不慎所造成的。它導(dǎo)致電壓擊穿。 以上4種原因都是可控硅的常見損壞原因，遇到可控硅損壞事件，應(yīng)冷靜分析。
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